9月29日，第十一届全国FIB技术及学术交流研讨会在创新港躬行楼举行。会议开始，中国电镜学会聚焦离子束专业委员会主任、西安交通大学材料学院院长单智伟教授回顾了FIB技术的发展历史及交流研讨会的举办历程。

单智伟院长致开幕辞

聚焦离子束（Focused Ion Beam, FIB）凭借其独特的微纳尺度加工制造能力和优势，已成为众多科技研究领域不可或缺的重要工具之一，受到越来越多的关注。第一天的大会报告中，共有来自西安交通大学、南京大学、哈尔滨工业大学、中科院近代物理研究所、卡尔蔡司和上海微纳等全国知名高校及企业的16位邀请报告人分别作报告。

部分学者作报告

报告内容紧扣聚焦离子束在微纳样品制备、加工以及测试分析中的应用和创新。报告人围绕聚焦离子束在自己研究领域的应用情况提出该技术存在的问题，并阐明解决问题的办法。报告内容设计严谨，层层剖析，针对性强，令现场学者们受益匪浅。与会师生热烈参与讨论。

在第二天的会议日程中，来自北京大学、西安交通大学、上海交通大学、日立高新技术等国内知名高校和国际知名企业的多位学者作了精彩的报告。

本次会议受中国电子显微镜学会FIB专业委员会委托，由西安交大金属材料强度国家重点实验室、西安交通大学材料科学与工程研究院联合承办，旨在汇集国内外本领域知名科学家、研究者和工程师，分享FIB技术的创新应用前景，研讨聚焦离子束技术在材料科学、生命科学、物理学、地质学等领域中的基础研究和应用前景研究。